Design & Test impedanzkontrollierter Leiterplatten · Software & Testsysteme zur Fehlerdiagnose auf Leiterplatten
CAF Test
Die Leiterplatte ist das Fundament für eine zuverlässige Elektronik-Baugruppe. Die Prüfung der Zuverlässigkeit beruht auf dem 3-Säulen-Modell:
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PWB CAF Test System
CAF Testergebnisdarstellung
PWB CAF Testcoupon
Bestimmung kritischer, CAF-anfälliger Stellen im Layout
Schadensbild
CAF Tester Bedieneroberfläche
Typisches CAF-Phänomen
Eine Schwäche in einer dieser drei Säulen führt zu einer massiven Beeinträchtigung der Gesamtzuverlässigkeit des elektronischen Systems. Der CAF Test (Cathodic Anodic Filament) wurde bisher vorwiegend zur Materialprüfung eingesetzt, ohne jedoch das Design und den Lagenaufbau der tatsächlichen Leiterplatte zu berücksichtigen.
Steigende Anforderungen speziell im Bereich Automotive mit vorgeschriebenen Prüfspannungen zwischen 1000V und 2000V machen es jedoch erforderlich, das spezifische Leiterbild mit einzubeziehen.
Der CAF Test von PWB nutzt einen speziell an die Leiterplatte angepassten
Testcoupon, welcher die kritischen Design-Eigenschaften abbildet:
Gibt es einen Industriestandard für den CAF Test?
Der CAF-Test muss an die Produktlebenszyklen im jeweiligen Anwendungssegment angepasst werden. Jede Industrie (Consumer, Computer, Telekom, Medizintechnik, Automotive, Luftfahrt, etc.) weist spezifische Endanwender-Umgebungsbedingungen auf, welche durch repräsentative Kriterien abgebildet werden müssen. Der CAF Test von PWB berücksichtigt diese neuen Anforderungen und wird sowohl als Systeminstallation als auch als Testdienstleistung angeboten.
zum Download: PWB CAF Testing.pdf
Polar instruments GmbH
Aichereben 16
4865 Nussdorf am Attersee
Austria
+43 7666 20041-0
Fax +43 7666 20041-20
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Interlocal Centre, #07-23
100G, Pasir Panjang Road,
Singapore 118523
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www.polarinstruments.asia
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